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Ieee Transactions On Components Packaging And Manufacturing Technology SCIE

Ieee Transactions On Components Packaging And Manufacturing Technology

  • ISSN:2156-3950
  • ESSN:2156-3985
  • 國際標準簡稱:IEEE T COMP PACK MAN
  • 出版地區(qū):UNITED STATES
  • 出版周期:12 issues/year
  • 研究方向:ENGINEERING, MANUFACTURING - ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
  • 出版年份:2011
  • 語言:English
  • 是否OA:未開放
  • 學科領域

    工程技術
  • 中科院分區(qū)

    3區(qū)
  • JCR分區(qū)

    Q2
  • IF影響因子

    2.3
  • 是否預警

期刊簡介

Journal Title:Ieee Transactions On Components Packaging And Manufacturing Technology

IEEE Transactions on Components, Packaging, and Manufacturing Technology publishes research and application articles on modeling, design, building blocks, technical infrastructure, and analysis underpinning electronic, photonic and MEMS packaging, in addition to new developments in passive components, electrical contacts and connectors, thermal management, and device reliability; as well as the manufacture of electronics parts and assemblies, with broad coverage of design, factory modeling, assembly methods, quality, product robustness, and design-for-environment.

中文簡介

《IEEE 元器件、封裝和制造技術學報》發(fā)表有關電子、光子和 MEMS 封裝的建模、設計、構建模塊、技術基礎設施和分析的研究和應用文章,此外還發(fā)表無源元件、電觸點和連接器、熱管理和設備可靠性方面的新發(fā)展;以及電子零件和組件的制造,廣泛涵蓋設計、工廠建模、裝配方法、質(zhì)量、產(chǎn)品穩(wěn)健性和環(huán)境設計。

期刊點評

Ieee Transactions On Components Packaging And Manufacturing Technology創(chuàng)刊于2011年,由Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.出版商出版,收稿方向涵蓋ENGINEERING, MANUFACTURING - ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC全領域,此刊是中等級別的SCI期刊,所以過審相對來講不是特別難,但是該刊專業(yè)認可度不錯,仍然是一本值得選擇的SCI期刊 。平均審稿速度 一般,3-6周 ,影響因子指數(shù)2.3,該期刊近期沒有被列入國際期刊預警名單,廣大學者值得一試。

中科院分區(qū)(數(shù)據(jù)版本:2023年12月升級版)

大類學科 分區(qū) 小類學科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
工程技術 3區(qū) ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 MATERIALS SCIENCE, MULTIDISCIPLINARY 材料科學:綜合 ENGINEERING, MANUFACTURING 工程:制造 3區(qū) 3區(qū) 4區(qū)

名詞解釋:
中科院分區(qū)也叫中科院JCR分區(qū),基礎版分為13個大類學科,然后按照各類期刊影響因子分別將每個類別分為四個區(qū),影響因子5%為1區(qū),6%-20%為2區(qū),21%-50%為3區(qū),其余為4區(qū)。

中科院分區(qū)(數(shù)據(jù)版本:2022年12月升級版)

大類學科 分區(qū) 小類學科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
工程技術 3區(qū) ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 MATERIALS SCIENCE, MULTIDISCIPLINARY 材料科學:綜合 ENGINEERING, MANUFACTURING 工程:制造 3區(qū) 3區(qū) 4區(qū)

中科院分區(qū)(數(shù)據(jù)版本:2021年12月舊的升級版)

大類學科 分區(qū) 小類學科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
工程技術 3區(qū) ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 MATERIALS SCIENCE, MULTIDISCIPLINARY 材料科學:綜合 ENGINEERING, MANUFACTURING 工程:制造 3區(qū) 3區(qū) 4區(qū)

中科院分區(qū)(數(shù)據(jù)版本:2021年12月基礎版)

大類學科 分區(qū) 小類學科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
工程技術 4區(qū) ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 ENGINEERING, MANUFACTURING 工程:制造 MATERIALS SCIENCE, MULTIDISCIPLINARY 材料科學:綜合 4區(qū) 4區(qū) 4區(qū)

中科院分區(qū)(數(shù)據(jù)版本:2021年12月升級版)

大類學科 分區(qū) 小類學科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
工程技術 3區(qū) ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 MATERIALS SCIENCE, MULTIDISCIPLINARY 材料科學:綜合 ENGINEERING, MANUFACTURING 工程:制造 3區(qū) 3區(qū) 4區(qū)

中科院分區(qū)(數(shù)據(jù)版本:2020年12月舊的升級版)

大類學科 分區(qū) 小類學科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
工程技術 3區(qū) ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 MATERIALS SCIENCE, MULTIDISCIPLINARY 材料科學:綜合 ENGINEERING, MANUFACTURING 工程:制造 3區(qū) 3區(qū) 4區(qū)

WOS分區(qū)(數(shù)據(jù)版本:2023-2024年最新版)

按JIF指標學科分區(qū) 收錄子集 分區(qū) 排名 百分位
學科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q2 175 / 352

50.4%

學科:ENGINEERING, MANUFACTURING SCIE Q3 41 / 68

40.4%

學科:MATERIALS SCIENCE, MULTIDISCIPLINARY SCIE Q3 275 / 438

37.3%

按JCI指標學科分區(qū) 收錄子集 分區(qū) 排名 百分位
學科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q3 212 / 354

40.25%

學科:ENGINEERING, MANUFACTURING SCIE Q3 48 / 68

30.15%

學科:MATERIALS SCIENCE, MULTIDISCIPLINARY SCIE Q3 267 / 438

39.16%

名詞解釋:
WOS即Web of Science,是全球獲取學術信息的重要數(shù)據(jù)庫,Web of Science包括自然科學、社會科學、藝術與人文領域的信息,來自全世界近9,000種最負盛名的高影響力研究期刊及12,000多種學術會議多學科內(nèi)容。給期刊分區(qū)時會按照某一個學科領域劃分,根據(jù)這一學科所有按照影響因子數(shù)值降序排名,然后平均分成4等份,期刊影響因子值高的就會在高分區(qū)中,最后的劃分結果分別是Q1,Q2,Q3,Q4,Q1代表質(zhì)量最高。

CiteScore分區(qū)(數(shù)據(jù)版本:2024年最新版)

CiteScore SJR SNIP CiteScore排名
4.7 0.562 1.119
學科 分區(qū) 排名 百分位
大類:Engineering 小類:Industrial and Manufacturing Engineering Q2 123 / 384

68%

大類:Engineering 小類:Electrical and Electronic Engineering Q2 283 / 797

64%

大類:Engineering 小類:Electronic, Optical and Magnetic Materials Q2 108 / 284

62%

名詞解釋:
CiteScore:衡量期刊所發(fā)表文獻的平均受引用次數(shù)。
SJR:SCImago 期刊等級衡量經(jīng)過加權后的期刊受引用次數(shù)。引用次數(shù)的加權值由施引期刊的學科領域和聲望 (SJR) 決定。
SNIP:每篇文章中來源出版物的標準化影響將實際受引用情況對照期刊所屬學科領域中預期的受引用情況進行衡量。

其他數(shù)據(jù)

是否OA開放訪問: h-index: 年文章數(shù):
未開放 39 217
Gold OA文章占比: 2021-2022最新影響因子(數(shù)據(jù)來源于搜索引擎): 開源占比(OA被引用占比):
11.38% 2.3 0.09...
研究類文章占比:文章 ÷(文章 + 綜述) 期刊收錄: 中科院《國際期刊預警名單(試行)》名單:
98.16% SCIE

歷年IF值(影響因子):

歷年引文指標和發(fā)文量:

歷年中科院JCR大類分區(qū)數(shù)據(jù):

歷年自引數(shù)據(jù):

發(fā)文統(tǒng)計

2023-2024國家/地區(qū)發(fā)文量統(tǒng)計:

國家/地區(qū) 數(shù)量
USA 226
CHINA MAINLAND 208
Taiwan 71
South Korea 51
GERMANY (FED REP GER) 49
India 47
Japan 46
Canada 40
England 24
France 22

2023-2024機構發(fā)文量統(tǒng)計:

機構 數(shù)量
UNIVERSITY SYSTEM OF GEORGIA 49
KOREA ADVANCED INSTITUTE OF SCIE... 26
INTEL CORPORATION 21
INDIAN INSTITUTE OF TECHNOLOGY S... 20
AUBURN UNIVERSITY SYSTEM 18
HARBIN INSTITUTE OF TECHNOLOGY 18
SOUTH CHINA UNIVERSITY OF TECHNO... 15
SOUTHEAST UNIVERSITY - CHINA 15
UNIVERSITY OF CALIFORNIA SYSTEM 15
CHINESE ACADEMY OF SCIENCES 14

近年引用統(tǒng)計:

期刊名稱 數(shù)量
IEEE T COMP PACK MAN 675
IEEE T MICROW THEORY 344
IEEE MICROW WIREL CO 171
MICROELECTRON RELIAB 120
IEEE T ELECTROMAGN C 114
IEEE T POWER ELECTR 109
IEEE T ANTENN PROPAG 87
INT J HEAT MASS TRAN 86
IEEE T ELECTRON DEV 81
ELECTRON LETT 60

近年被引用統(tǒng)計:

期刊名稱 數(shù)量
IEEE T COMP PACK MAN 675
IEEE ACCESS 272
INT J HEAT MASS TRAN 150
IEEE T MICROW THEORY 123
MICROELECTRON RELIAB 98
APPL THERM ENG 81
J MATER SCI-MATER EL 77
J ELECTRON PACKAGING 71
IET MICROW ANTENNA P 69
IEEE T ELECTROMAGN C 57

近年文章引用統(tǒng)計:

文章名稱 數(shù)量
A Study on the Optimization of A... 13
Design and Packaging of an Eye-S... 12
Device-Level Thermal Management ... 11
SMT Solder Joint Inspection via ... 10
Direct-Acting Piezoelectric Jet ... 10
Wire Defect Recognition of Sprin... 10
Inkjet Printing of Wideband Stac... 10
The Effect of Solder Joint Micro... 9
Stochastic Collocation With Non-... 9
Defect Detection in Electronic S... 8

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