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Infrared Physics & Technology SCIE

Infrared Physics & Technology

  • ISSN:1350-4495
  • ESSN:1879-0275
  • 國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)稱:INFRARED PHYS TECHN
  • 出版地區(qū):NETHERLANDS
  • 出版周期:Bimonthly
  • 研究方向:光學(xué) - 物理
  • 出版年份:1994
  • 語(yǔ)言:English
  • 是否OA:未開放
  • 學(xué)科領(lǐng)域

    物理與天體物理
  • 中科院分區(qū)

    3區(qū)
  • JCR分區(qū)

    Q2
  • IF影響因子

    3.1
  • 是否預(yù)警

期刊簡(jiǎn)介

Journal Title:Infrared Physics & Technology

The Journal covers the entire field of infrared physics and technology: theory, experiment, application, devices and instrumentation. Infrared' is defined as covering the near, mid and far infrared (terahertz) regions from 0.75um (750nm) to 1mm (300GHz.) Submissions in the 300GHz to 100GHz region may be accepted at the editors discretion if their content is relevant to shorter wavelengths. Submissions must be primarily concerned with and directly relevant to this spectral region.

Its core topics can be summarized as the generation, propagation and detection, of infrared radiation; the associated optics, materials and devices; and its use in all fields of science, industry, engineering and medicine.

Infrared techniques occur in many different fields, notably spectroscopy and interferometry; material characterization and processing; atmospheric physics, astronomy and space research. Scientific aspects include lasers, quantum optics, quantum electronics, image processing and semiconductor physics. Some important applications are medical diagnostics and treatment, industrial inspection and environmental monitoring.

中文簡(jiǎn)介

本期刊涵蓋紅外物理和技術(shù)的整個(gè)領(lǐng)域:理論、實(shí)驗(yàn)、應(yīng)用、設(shè)備和儀器。紅外的定義涵蓋從 0.75 微米 (750nm) 到 1 毫米 (300GHz) 的近紅外、中紅外和遠(yuǎn)紅外 (太赫茲) 區(qū)域。如果內(nèi)容與較短波長(zhǎng)相關(guān),則編輯可酌情接受 300GHz 至 100GHz 區(qū)域的投稿。投稿必須主要關(guān)注并直接與此光譜區(qū)域相關(guān)。

其核心主題可以概括為紅外輻射的產(chǎn)生、傳播和檢測(cè);相關(guān)的光學(xué)、材料和設(shè)備;以及它在科學(xué)、工業(yè)、工程和醫(yī)學(xué)所有領(lǐng)域的應(yīng)用。

紅外技術(shù)出現(xiàn)在許多不同的領(lǐng)域,特別是光譜學(xué)和干涉測(cè)量法;材料特性和加工;大氣物理學(xué)、天文學(xué)和空間研究??茖W(xué)方面包括激光、量子光學(xué)、量子電子學(xué)、圖像處理和半導(dǎo)體物理學(xué)。一些重要的應(yīng)用是醫(yī)療診斷和治療、工業(yè)檢測(cè)和環(huán)境監(jiān)測(cè)。

期刊點(diǎn)評(píng)

Infrared Physics & Technology創(chuàng)刊于1994年,由Elsevier出版商出版,收稿方向涵蓋光學(xué) - 物理全領(lǐng)域,此刊是中等級(jí)別的SCI期刊,所以過審相對(duì)來講不是特別難,但是該刊專業(yè)認(rèn)可度不錯(cuò),仍然是一本值得選擇的SCI期刊 。平均審稿速度 約3.0個(gè)月 約8.1周,影響因子指數(shù)3.1,該期刊近期沒有被列入國(guó)際期刊預(yù)警名單,廣大學(xué)者值得一試。

中科院分區(qū)(數(shù)據(jù)版本:2023年12月升級(jí)版)

大類學(xué)科 分區(qū) 小類學(xué)科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
物理與天體物理 3區(qū) INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 OPTICS 光學(xué) PHYSICS, APPLIED 物理:應(yīng)用 3區(qū) 3區(qū) 3區(qū)

名詞解釋:
中科院分區(qū)也叫中科院JCR分區(qū),基礎(chǔ)版分為13個(gè)大類學(xué)科,然后按照各類期刊影響因子分別將每個(gè)類別分為四個(gè)區(qū),影響因子5%為1區(qū),6%-20%為2區(qū),21%-50%為3區(qū),其余為4區(qū)。

中科院分區(qū)(數(shù)據(jù)版本:2022年12月升級(jí)版)

大類學(xué)科 分區(qū) 小類學(xué)科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
物理與天體物理 2區(qū) INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 OPTICS 光學(xué) PHYSICS, APPLIED 物理:應(yīng)用 3區(qū) 3區(qū) 3區(qū)

中科院分區(qū)(數(shù)據(jù)版本:2021年12月舊的升級(jí)版)

大類學(xué)科 分區(qū) 小類學(xué)科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
物理與天體物理 2區(qū) INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 OPTICS 光學(xué) PHYSICS, APPLIED 物理:應(yīng)用 2區(qū) 3區(qū) 3區(qū)

中科院分區(qū)(數(shù)據(jù)版本:2021年12月基礎(chǔ)版)

大類學(xué)科 分區(qū) 小類學(xué)科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
物理 3區(qū) INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 OPTICS 光學(xué) PHYSICS, APPLIED 物理:應(yīng)用 3區(qū) 3區(qū) 4區(qū)

中科院分區(qū)(數(shù)據(jù)版本:2021年12月升級(jí)版)

大類學(xué)科 分區(qū) 小類學(xué)科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
物理與天體物理 2區(qū) INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 OPTICS 光學(xué) PHYSICS, APPLIED 物理:應(yīng)用 2區(qū) 3區(qū) 3區(qū)

中科院分區(qū)(數(shù)據(jù)版本:2020年12月舊的升級(jí)版)

大類學(xué)科 分區(qū) 小類學(xué)科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
物理與天體物理 2區(qū) OPTICS 光學(xué) INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 PHYSICS, APPLIED 物理:應(yīng)用 2區(qū) 3區(qū) 3區(qū)

WOS分區(qū)(數(shù)據(jù)版本:2023-2024年最新版)

按JIF指標(biāo)學(xué)科分區(qū) 收錄子集 分區(qū) 排名 百分位
學(xué)科:INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION SCIE Q2 25 / 76

67.8%

學(xué)科:OPTICS SCIE Q2 37 / 119

69.3%

學(xué)科:PHYSICS, APPLIED SCIE Q2 63 / 179

65.1%

按JCI指標(biāo)學(xué)科分區(qū) 收錄子集 分區(qū) 排名 百分位
學(xué)科:INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION SCIE Q2 24 / 76

69.08%

學(xué)科:OPTICS SCIE Q2 43 / 120

64.58%

學(xué)科:PHYSICS, APPLIED SCIE Q2 55 / 179

69.55%

名詞解釋:
WOS即Web of Science,是全球獲取學(xué)術(shù)信息的重要數(shù)據(jù)庫(kù),Web of Science包括自然科學(xué)、社會(huì)科學(xué)、藝術(shù)與人文領(lǐng)域的信息,來自全世界近9,000種最負(fù)盛名的高影響力研究期刊及12,000多種學(xué)術(shù)會(huì)議多學(xué)科內(nèi)容。給期刊分區(qū)時(shí)會(huì)按照某一個(gè)學(xué)科領(lǐng)域劃分,根據(jù)這一學(xué)科所有按照影響因子數(shù)值降序排名,然后平均分成4等份,期刊影響因子值高的就會(huì)在高分區(qū)中,最后的劃分結(jié)果分別是Q1,Q2,Q3,Q4,Q1代表質(zhì)量最高。

CiteScore分區(qū)(數(shù)據(jù)版本:2024年最新版)

CiteScore SJR SNIP CiteScore排名
5.7 0.565 1.043
學(xué)科 分區(qū) 排名 百分位
大類:Physics and Astronomy 小類:Condensed Matter Physics Q2 116 / 434

73%

大類:Physics and Astronomy 小類:Atomic and Molecular Physics, and Optics Q2 63 / 224

72%

大類:Physics and Astronomy 小類:Electronic, Optical and Magnetic Materials Q2 83 / 284

70%

名詞解釋:
CiteScore:衡量期刊所發(fā)表文獻(xiàn)的平均受引用次數(shù)。
SJR:SCImago 期刊等級(jí)衡量經(jīng)過加權(quán)后的期刊受引用次數(shù)。引用次數(shù)的加權(quán)值由施引期刊的學(xué)科領(lǐng)域和聲望 (SJR) 決定。
SNIP:每篇文章中來源出版物的標(biāo)準(zhǔn)化影響將實(shí)際受引用情況對(duì)照期刊所屬學(xué)科領(lǐng)域中預(yù)期的受引用情況進(jìn)行衡量。

其他數(shù)據(jù)

是否OA開放訪問: h-index: 年文章數(shù):
未開放 56 475
Gold OA文章占比: 2021-2022最新影響因子(數(shù)據(jù)來源于搜索引擎): 開源占比(OA被引用占比):
4.48% 3.1 0.02...
研究類文章占比:文章 ÷(文章 + 綜述) 期刊收錄: 中科院《國(guó)際期刊預(yù)警名單(試行)》名單:
99.16% SCIE

歷年IF值(影響因子):

歷年引文指標(biāo)和發(fā)文量:

歷年中科院JCR大類分區(qū)數(shù)據(jù):

歷年自引數(shù)據(jù):

發(fā)文統(tǒng)計(jì)

2023-2024國(guó)家/地區(qū)發(fā)文量統(tǒng)計(jì):

國(guó)家/地區(qū) 數(shù)量
CHINA MAINLAND 690
India 61
USA 58
Iran 39
England 32
Poland 30
Russia 28
South Korea 23
Canada 22
Italy 19

2023-2024機(jī)構(gòu)發(fā)文量統(tǒng)計(jì):

機(jī)構(gòu) 數(shù)量
CHINESE ACADEMY OF SCIENCES 130
HARBIN INSTITUTE OF TECHNOLOGY 62
TIANJIN UNIVERSITY 40
SHANGHAI INSTITUTE OF TECHNICAL ... 33
NANJING UNIVERSITY OF SCIENCE & ... 24
CHANGCHUN UNIVERSITY OF SCIENCE ... 23
UNIVERSITY OF ELECTRONIC SCIENCE... 21
BEIHANG UNIVERSITY 20
HUAZHONG UNIVERSITY OF SCIENCE &... 18
RUSSIAN ACADEMY OF SCIENCES 18

近年引用統(tǒng)計(jì):

期刊名稱 數(shù)量
INFRARED PHYS TECHN 721
APPL PHYS LETT 261
OPT EXPRESS 195
APPL OPTICS 172
IEEE T GEOSCI REMOTE 163
J APPL PHYS 155
NDT&E INT 136
OPT LETT 123
IEEE T IMAGE PROCESS 116
J ELECTRON MATER 105

近年被引用統(tǒng)計(jì):

期刊名稱 數(shù)量
INFRARED PHYS TECHN 721
IEEE ACCESS 182
SENSORS-BASEL 101
REMOTE SENS-BASEL 85
OPTIK 84
APPL OPTICS 64
OPT QUANT ELECTRON 61
APPL SCI-BASEL 49
MATER RES EXPRESS 49
OPT EXPRESS 49

近年文章引用統(tǒng)計(jì):

文章名稱 數(shù)量
Optical remote sensing image enh... 28
Towards a table-top synchrotron ... 19
Robust contact-point detection f... 19
Two dimensional materials based ... 17
An overview of corrosion defect ... 17
Nondestructive measurement of so... 16
Infrared and visible image fusio... 16
An infrared small target detecti... 12
Infrared small target detection ... 11
Midwave infrared barrier detecto... 11

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Entropy 2.1 3區(qū)
Physical Review Letters 8.1 1區(qū)
Optics Express 3.2 2區(qū)
Applied Physics Letters 3.5 2區(qū)
Acs Photonics 6.5 1區(qū)
Astrophysical Journal 4.8 2區(qū)

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