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Ieee Transactions On Semiconductor Manufacturing SCIE

Ieee Transactions On Semiconductor Manufacturing

  • ISSN:0894-6507
  • ESSN:1558-2345
  • 國際標準簡稱:IEEE T SEMICONDUCT M
  • 出版地區(qū):UNITED STATES
  • 出版周期:Quarterly
  • 研究方向:工程技術(shù) - 工程:電子與電氣
  • 出版年份:1988
  • 語言:English
  • 是否OA:未開放
  • 學(xué)科領(lǐng)域

    工程技術(shù)
  • 中科院分區(qū)

    3區(qū)
  • JCR分區(qū)

    Q2
  • IF影響因子

    2.3
  • 是否預(yù)警

期刊簡介

Journal Title:Ieee Transactions On Semiconductor Manufacturing

The IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing addresses the challenging problems of manufacturing complex microelectronic components, especially very large scale integrated circuits (VLSI). Manufacturing these products requires precision micropatterning, precise control of materials properties, ultraclean work environments, and complex interactions of chemical, physical, electrical and mechanical processes.

中文簡介

《IEEE 半導(dǎo)體制造學(xué)報》致力于解決制造復(fù)雜微電子元件(尤其是超大規(guī)模集成電路 (VLSI))的難題。制造這些產(chǎn)品需要精密微圖案化、精確控制材料特性、超潔凈工作環(huán)境以及化學(xué)、物理、電氣和機械過程的復(fù)雜相互作用。

期刊點評

Ieee Transactions On Semiconductor Manufacturing創(chuàng)刊于1988年,由Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.出版商出版,收稿方向涵蓋工程技術(shù) - 工程:電子與電氣全領(lǐng)域,此刊是中等級別的SCI期刊,所以過審相對來講不是特別難,但是該刊專業(yè)認可度不錯,仍然是一本值得選擇的SCI期刊 。平均審稿速度 約6.0個月 ,影響因子指數(shù)2.3,該期刊近期沒有被列入國際期刊預(yù)警名單,廣大學(xué)者值得一試。

中科院分區(qū)(數(shù)據(jù)版本:2023年12月升級版)

大類學(xué)科 分區(qū) 小類學(xué)科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
工程技術(shù) 3區(qū) PHYSICS, APPLIED 物理:應(yīng)用 PHYSICS, CONDENSED MATTER 物理:凝聚態(tài)物理 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 ENGINEERING, MANUFACTURING 工程:制造 3區(qū) 3區(qū) 4區(qū) 4區(qū)

名詞解釋:
中科院分區(qū)也叫中科院JCR分區(qū),基礎(chǔ)版分為13個大類學(xué)科,然后按照各類期刊影響因子分別將每個類別分為四個區(qū),影響因子5%為1區(qū),6%-20%為2區(qū),21%-50%為3區(qū),其余為4區(qū)。

中科院分區(qū)(數(shù)據(jù)版本:2022年12月升級版)

大類學(xué)科 分區(qū) 小類學(xué)科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
工程技術(shù) 4區(qū) PHYSICS, CONDENSED MATTER 物理:凝聚態(tài)物理 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 ENGINEERING, MANUFACTURING 工程:制造 PHYSICS, APPLIED 物理:應(yīng)用 3區(qū) 4區(qū) 4區(qū) 4區(qū)

中科院分區(qū)(數(shù)據(jù)版本:2021年12月舊的升級版)

大類學(xué)科 分區(qū) 小類學(xué)科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
工程技術(shù) 3區(qū) PHYSICS, CONDENSED MATTER 物理:凝聚態(tài)物理 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 ENGINEERING, MANUFACTURING 工程:制造 PHYSICS, APPLIED 物理:應(yīng)用 3區(qū) 4區(qū) 4區(qū) 4區(qū)

中科院分區(qū)(數(shù)據(jù)版本:2021年12月基礎(chǔ)版)

大類學(xué)科 分區(qū) 小類學(xué)科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
工程技術(shù) 4區(qū) ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 ENGINEERING, MANUFACTURING 工程:制造 PHYSICS, APPLIED 物理:應(yīng)用 PHYSICS, CONDENSED MATTER 物理:凝聚態(tài)物理 4區(qū) 4區(qū) 4區(qū) 4區(qū)

中科院分區(qū)(數(shù)據(jù)版本:2021年12月升級版)

大類學(xué)科 分區(qū) 小類學(xué)科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
工程技術(shù) 3區(qū) PHYSICS, CONDENSED MATTER 物理:凝聚態(tài)物理 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 ENGINEERING, MANUFACTURING 工程:制造 PHYSICS, APPLIED 物理:應(yīng)用 3區(qū) 4區(qū) 4區(qū) 4區(qū)

中科院分區(qū)(數(shù)據(jù)版本:2020年12月舊的升級版)

大類學(xué)科 分區(qū) 小類學(xué)科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
工程技術(shù) 3區(qū) ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 PHYSICS, APPLIED 物理:應(yīng)用 PHYSICS, CONDENSED MATTER 物理:凝聚態(tài)物理 ENGINEERING, MANUFACTURING 工程:制造 3區(qū) 3區(qū) 3區(qū) 4區(qū)

WOS分區(qū)(數(shù)據(jù)版本:2023-2024年最新版)

按JIF指標學(xué)科分區(qū) 收錄子集 分區(qū) 排名 百分位
學(xué)科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q2 175 / 352

50.4%

學(xué)科:ENGINEERING, MANUFACTURING SCIE Q3 41 / 68

40.4%

學(xué)科:PHYSICS, APPLIED SCIE Q3 100 / 179

44.4%

學(xué)科:PHYSICS, CONDENSED MATTER SCIE Q3 45 / 79

43.7%

按JCI指標學(xué)科分區(qū) 收錄子集 分區(qū) 排名 百分位
學(xué)科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q3 183 / 354

48.45%

學(xué)科:ENGINEERING, MANUFACTURING SCIE Q3 35 / 68

49.26%

學(xué)科:PHYSICS, APPLIED SCIE Q3 92 / 179

48.88%

學(xué)科:PHYSICS, CONDENSED MATTER SCIE Q2 33 / 79

58.86%

名詞解釋:
WOS即Web of Science,是全球獲取學(xué)術(shù)信息的重要數(shù)據(jù)庫,Web of Science包括自然科學(xué)、社會科學(xué)、藝術(shù)與人文領(lǐng)域的信息,來自全世界近9,000種最負盛名的高影響力研究期刊及12,000多種學(xué)術(shù)會議多學(xué)科內(nèi)容。給期刊分區(qū)時會按照某一個學(xué)科領(lǐng)域劃分,根據(jù)這一學(xué)科所有按照影響因子數(shù)值降序排名,然后平均分成4等份,期刊影響因子值高的就會在高分區(qū)中,最后的劃分結(jié)果分別是Q1,Q2,Q3,Q4,Q1代表質(zhì)量最高。

CiteScore分區(qū)(數(shù)據(jù)版本:2024年最新版)

CiteScore SJR SNIP CiteScore排名
5.2 0.967 1.237
學(xué)科 分區(qū) 排名 百分位
大類:Engineering 小類:Industrial and Manufacturing Engineering Q2 114 / 384

70%

大類:Engineering 小類:Condensed Matter Physics Q2 131 / 434

69%

大類:Engineering 小類:Electronic, Optical and Magnetic Materials Q2 89 / 284

68%

大類:Engineering 小類:Electrical and Electronic Engineering Q2 250 / 797

68%

名詞解釋:
CiteScore:衡量期刊所發(fā)表文獻的平均受引用次數(shù)。
SJR:SCImago 期刊等級衡量經(jīng)過加權(quán)后的期刊受引用次數(shù)。引用次數(shù)的加權(quán)值由施引期刊的學(xué)科領(lǐng)域和聲望 (SJR) 決定。
SNIP:每篇文章中來源出版物的標準化影響將實際受引用情況對照期刊所屬學(xué)科領(lǐng)域中預(yù)期的受引用情況進行衡量。

其他數(shù)據(jù)

是否OA開放訪問: h-index: 年文章數(shù):
未開放 59 74
Gold OA文章占比: 2021-2022最新影響因子(數(shù)據(jù)來源于搜索引擎): 開源占比(OA被引用占比):
4.67% 2.3 0.10...
研究類文章占比:文章 ÷(文章 + 綜述) 期刊收錄: 中科院《國際期刊預(yù)警名單(試行)》名單:
97.30% SCIE

歷年IF值(影響因子):

歷年引文指標和發(fā)文量:

歷年中科院JCR大類分區(qū)數(shù)據(jù):

歷年自引數(shù)據(jù):

發(fā)文統(tǒng)計

2023-2024國家/地區(qū)發(fā)文量統(tǒng)計:

國家/地區(qū) 數(shù)量
USA 83
South Korea 40
CHINA MAINLAND 38
Japan 29
Taiwan 25
GERMANY (FED REP GER) 15
Belgium 6
India 6
Netherlands 6
Singapore 6

2023-2024機構(gòu)發(fā)文量統(tǒng)計:

機構(gòu) 數(shù)量
SAMSUNG 14
GLOBALFOUNDRIES 11
SAMSUNG ELECTRONICS 10
KOREA ADVANCED INSTITUTE OF SCIE... 8
UNIVERSITY OF NORTH CAROLINA 8
INTEL CORPORATION 7
NATIONAL TSING HUA UNIVERSITY 7
SKYWORKS SOLUT INC 7
ASML HOLDING 6
IMEC 6

近年引用統(tǒng)計:

期刊名稱 數(shù)量
IEEE T SEMICONDUCT M 182
INT J PROD RES 33
EXPERT SYST APPL 30
IEEE T AUTOM SCI ENG 25
J APPL PHYS 19
JPN J APPL PHYS 18
APPL PHYS LETT 17
J ELECTROCHEM SOC 16
J MACH LEARN RES 16
CHEMOMETR INTELL LAB 15

近年被引用統(tǒng)計:

期刊名稱 數(shù)量
IEEE T SEMICONDUCT M 182
IEEE T AUTOM SCI ENG 79
IEEE ACCESS 48
ECS J SOLID STATE SC 33
COMPUT IND ENG 24
INT J PROD RES 20
J MANUF SYST 17
COMPUT IND 16
IEEE T ELECTRON DEV 16
INT J ADV MANUF TECH 16

近年文章引用統(tǒng)計:

文章名稱 數(shù)量
Wafer Map Defect Pattern Classif... 41
Classification of Mixed-Type Def... 24
Hybrid Particle Swarm Optimizati... 23
Convolutional Neural Network for... 22
AdaBalGAN: An Improved Generativ... 15
A Voting Ensemble Classifier for... 15
Epitaxial beta-Ga2O3 and beta-(A... 15
Decision Tree Ensemble-Based Waf... 13
A Data Driven Cycle Time Predict... 12
Deep-Structured Machine Learning... 12

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Chemical Engineering Journal 13.3 1區(qū)
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Electronics 2.6 3區(qū)
Shock Waves 1.7 4區(qū)
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免責(zé)聲明

若用戶需要出版服務(wù),請聯(lián)系出版商:IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC, 445 HOES LANE, PISCATAWAY, USA, NJ, 08855-4141。