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Ieee Transactions On Pattern Analysis And Machine Intelligence SCIE

Ieee Transactions On Pattern Analysis And Machine Intelligence

  • ISSN:0162-8828
  • ESSN:1939-3539
  • 國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)稱:IEEE T PATTERN ANAL
  • 出版地區(qū):UNITED STATES
  • 出版周期:Monthly
  • 研究方向:工程技術(shù) - 工程:電子與電氣
  • 出版年份:1979
  • 語言:English
  • 是否OA:未開放
  • 學(xué)科領(lǐng)域

    計(jì)算機(jī)科學(xué)
  • 中科院分區(qū)

    1區(qū)
  • JCR分區(qū)

    Q1
  • IF影響因子

    20.8
  • 是否預(yù)警

期刊簡(jiǎn)介

Journal Title:Ieee Transactions On Pattern Analysis And Machine Intelligence

The IEEE Transactions on Pattern Analysis and Machine Intelligence publishes articles on all traditional areas of computer vision and image understanding, all traditional areas of pattern analysis and recognition, and selected areas of machine intelligence, with a particular emphasis on machine learning for pattern analysis. Areas such as techniques for visual search, document and handwriting analysis, medical image analysis, video and image sequence analysis, content-based retrieval of image and video, face and gesture recognition and relevant specialized hardware and/or software architectures are also covered.

中文簡(jiǎn)介

《IEEE 模式分析與機(jī)器智能學(xué)報(bào)》發(fā)表有關(guān)計(jì)算機(jī)視覺和圖像理解的所有傳統(tǒng)領(lǐng)域、模式分析和識(shí)別的所有傳統(tǒng)領(lǐng)域以及機(jī)器智能的選定領(lǐng)域的文章,特別強(qiáng)調(diào)模式分析的機(jī)器學(xué)習(xí)。還涵蓋了視覺搜索技術(shù)、文檔和筆跡分析、醫(yī)學(xué)圖像分析、視頻和圖像序列分析、基于內(nèi)容的圖像和視頻檢索、面部和手勢(shì)識(shí)別以及相關(guān)的專用硬件和/或軟件架構(gòu)等領(lǐng)域。

期刊點(diǎn)評(píng)

Ieee Transactions On Pattern Analysis And Machine Intelligence創(chuàng)刊于1979年,由IEEE Computer Society出版商出版,收稿方向涵蓋工程技術(shù) - 工程:電子與電氣全領(lǐng)域,在行業(yè)領(lǐng)域中學(xué)術(shù)影響力很大,屬于TOP期刊,國(guó)際一流期刊,關(guān)注度和專業(yè)度非常高,所以對(duì)原創(chuàng)文章要求創(chuàng)新性很高,過審難度很高,如果您有志于TOP期刊,建議關(guān)注此刊。平均審稿速度 約7.9個(gè)月 ,影響因子指數(shù)20.8,該期刊近期沒有被列入國(guó)際期刊預(yù)警名單,廣大學(xué)者值得一試。

中科院分區(qū)(數(shù)據(jù)版本:2023年12月升級(jí)版)

大類學(xué)科 分區(qū) 小類學(xué)科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
計(jì)算機(jī)科學(xué) 1區(qū) COMPUTER SCIENCE, ARTIFICIAL INTELLIGENCE 計(jì)算機(jī):人工智能 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 1區(qū) 1區(qū)

名詞解釋:
中科院分區(qū)也叫中科院JCR分區(qū),基礎(chǔ)版分為13個(gè)大類學(xué)科,然后按照各類期刊影響因子分別將每個(gè)類別分為四個(gè)區(qū),影響因子5%為1區(qū),6%-20%為2區(qū),21%-50%為3區(qū),其余為4區(qū)。

中科院分區(qū)(數(shù)據(jù)版本:2022年12月升級(jí)版)

大類學(xué)科 分區(qū) 小類學(xué)科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
計(jì)算機(jī)科學(xué) 1區(qū) COMPUTER SCIENCE, ARTIFICIAL INTELLIGENCE 計(jì)算機(jī):人工智能 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 1區(qū) 1區(qū)

中科院分區(qū)(數(shù)據(jù)版本:2021年12月舊的升級(jí)版)

大類學(xué)科 分區(qū) 小類學(xué)科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
計(jì)算機(jī)科學(xué) 1區(qū) COMPUTER SCIENCE, ARTIFICIAL INTELLIGENCE 計(jì)算機(jī):人工智能 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 1區(qū) 1區(qū)

中科院分區(qū)(數(shù)據(jù)版本:2021年12月基礎(chǔ)版)

大類學(xué)科 分區(qū) 小類學(xué)科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
工程技術(shù) 1區(qū) COMPUTER SCIENCE, ARTIFICIAL INTELLIGENCE 計(jì)算機(jī):人工智能 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 1區(qū) 1區(qū)

中科院分區(qū)(數(shù)據(jù)版本:2021年12月升級(jí)版)

大類學(xué)科 分區(qū) 小類學(xué)科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
計(jì)算機(jī)科學(xué) 1區(qū) COMPUTER SCIENCE, ARTIFICIAL INTELLIGENCE 計(jì)算機(jī):人工智能 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 1區(qū) 1區(qū)

中科院分區(qū)(數(shù)據(jù)版本:2020年12月舊的升級(jí)版)

大類學(xué)科 分區(qū) 小類學(xué)科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
計(jì)算機(jī)科學(xué) 1區(qū) COMPUTER SCIENCE, ARTIFICIAL INTELLIGENCE 計(jì)算機(jī):人工智能 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 1區(qū) 1區(qū)

WOS分區(qū)(數(shù)據(jù)版本:2023-2024年最新版)

按JIF指標(biāo)學(xué)科分區(qū) 收錄子集 分區(qū) 排名 百分位
學(xué)科:COMPUTER SCIENCE, ARTIFICIAL INTELLIGENCE SCIE Q1 2 / 197

99.2%

學(xué)科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q1 3 / 352

99.3%

按JCI指標(biāo)學(xué)科分區(qū) 收錄子集 分區(qū) 排名 百分位
學(xué)科:COMPUTER SCIENCE, ARTIFICIAL INTELLIGENCE SCIE Q1 3 / 198

98.74%

學(xué)科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q1 2 / 354

99.58%

名詞解釋:
WOS即Web of Science,是全球獲取學(xué)術(shù)信息的重要數(shù)據(jù)庫(kù),Web of Science包括自然科學(xué)、社會(huì)科學(xué)、藝術(shù)與人文領(lǐng)域的信息,來自全世界近9,000種最負(fù)盛名的高影響力研究期刊及12,000多種學(xué)術(shù)會(huì)議多學(xué)科內(nèi)容。給期刊分區(qū)時(shí)會(huì)按照某一個(gè)學(xué)科領(lǐng)域劃分,根據(jù)這一學(xué)科所有按照影響因子數(shù)值降序排名,然后平均分成4等份,期刊影響因子值高的就會(huì)在高分區(qū)中,最后的劃分結(jié)果分別是Q1,Q2,Q3,Q4,Q1代表質(zhì)量最高。

CiteScore分區(qū)(數(shù)據(jù)版本:2024年最新版)

CiteScore SJR SNIP CiteScore排名
28.4 6.158 6.47
學(xué)科 分區(qū) 排名 百分位
大類:Mathematics 小類:Applied Mathematics Q1 1 / 635

99%

大類:Mathematics 小類:Computational Theory and Mathematics Q1 1 / 176

99%

大類:Mathematics 小類:Software Q1 7 / 407

98%

大類:Mathematics 小類:Artificial Intelligence Q1 8 / 350

97%

大類:Mathematics 小類:Computer Vision and Pattern Recognition Q1 6 / 106

94%

名詞解釋:
CiteScore:衡量期刊所發(fā)表文獻(xiàn)的平均受引用次數(shù)。
SJR:SCImago 期刊等級(jí)衡量經(jīng)過加權(quán)后的期刊受引用次數(shù)。引用次數(shù)的加權(quán)值由施引期刊的學(xué)科領(lǐng)域和聲望 (SJR) 決定。
SNIP:每篇文章中來源出版物的標(biāo)準(zhǔn)化影響將實(shí)際受引用情況對(duì)照期刊所屬學(xué)科領(lǐng)域中預(yù)期的受引用情況進(jìn)行衡量。

其他數(shù)據(jù)

是否OA開放訪問: h-index: 年文章數(shù):
未開放 326 1005
Gold OA文章占比: 2021-2022最新影響因子(數(shù)據(jù)來源于搜索引擎): 開源占比(OA被引用占比):
9.87% 20.8 0.09...
研究類文章占比:文章 ÷(文章 + 綜述) 期刊收錄: 中科院《國(guó)際期刊預(yù)警名單(試行)》名單:
99.60% SCIE

歷年IF值(影響因子):

歷年引文指標(biāo)和發(fā)文量:

歷年中科院JCR大類分區(qū)數(shù)據(jù):

歷年自引數(shù)據(jù):

發(fā)文統(tǒng)計(jì)

2023-2024國(guó)家/地區(qū)發(fā)文量統(tǒng)計(jì):

國(guó)家/地區(qū) 數(shù)量
USA 271
CHINA MAINLAND 266
England 81
Australia 62
Singapore 51
GERMANY (FED REP GER) 49
France 44
South Korea 35
Italy 34
Switzerland 31

2023-2024機(jī)構(gòu)發(fā)文量統(tǒng)計(jì):

機(jī)構(gòu) 數(shù)量
CHINESE ACADEMY OF SCIENCES 60
UNIVERSITY OF CALIFORNIA SYSTEM 47
MICROSOFT 29
NANYANG TECHNOLOGICAL UNIVERSITY... 24
TSINGHUA UNIVERSITY 24
CENTRE NATIONAL DE LA RECHERCHE ... 23
PEKING UNIVERSITY 23
IMPERIAL COLLEGE LONDON 21
UNIVERSITY OF LONDON 20
UNIVERSITY OF SYDNEY 20

近年引用統(tǒng)計(jì):

期刊名稱 數(shù)量
IEEE T PATTERN ANAL 947
INT J COMPUT VISION 342
IEEE T IMAGE PROCESS 274
ACM T GRAPHIC 169
J MACH LEARN RES 164
PATTERN RECOGN 83
IMAGE VISION COMPUT 56
IEEE T MULTIMEDIA 52
COMPUT VIS IMAGE UND 49
IEEE T KNOWL DATA EN 46

近年被引用統(tǒng)計(jì):

期刊名稱 數(shù)量
IEEE ACCESS 4700
MULTIMED TOOLS APPL 1793
IEEE T IMAGE PROCESS 1411
SENSORS-BASEL 1301
NEUROCOMPUTING 1287
PATTERN RECOGN 1119
IEEE T PATTERN ANAL 947
REMOTE SENS-BASEL 887
IEEE T CIRC SYST VID 658
PATTERN RECOGN LETT 637

近年文章引用統(tǒng)計(jì):

文章名稱 數(shù)量
DeepLab: Semantic Image Segmenta... 1207
Places: A 10 Million Image Datab... 155
HyperFace: A Deep Multi-Task Lea... 129
Direct Sparse Odometry 121
Long-Term Temporal Convolutions ... 105
Multimodal Machine Learning: A S... 104
A Survey on Learning to Hash 84
SIFT Meets CNN: A Decade Survey ... 79
Virtual Adversarial Training: A ... 67
Deeply Supervised Salient Object... 66

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Applied Artificial Intelligence 2.9 4區(qū)
Iet Software 1.5 4區(qū)
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免責(zé)聲明

若用戶需要出版服務(wù),請(qǐng)聯(lián)系出版商:IEEE COMPUTER SOC, 10662 LOS VAQUEROS CIRCLE, PO BOX 3014, LOS ALAMITOS, USA, CA, 90720-1314。